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NFC-Produktentwicklung: Frühzeitiges Fehlerfinden spart Zeit und Geld

Pressemeldungen | von COMPRION | 08. März 2018
Pre-Conformance-Testen – Reduzieren von teuren Testlaborzeiten Pre-Conformance-Testen – Reduzieren von teuren Testlaborzeiten BILD: Comprion

Comprion launcht eine neue Produktlinie fürs NFC-Entwicklungstesten, mit deren Hilfe sich die Ursachen für Fehler in der Nahfeldkommunikation frühzeitig identifizieren und beheben lassen. Die CL Development Line, kann sowohl zur Validierung des Schnittstellendesigns, zur Vorbereitung der Zertifizierung, für funktionale Tests und zur Prüfung der Interoperabilität eingesetzt werden.

NFC-Probleme gibt’s doch gar nicht – oder doch?

Man könnte meinen, eine nicht ganz neue Technologie wie NFC funktioniert mittlerweile reibungslos. „Aber so ist es nicht!“, erklärt Dr. Michael Jahnich, Entwicklungschef für NFC-Testlösungen bei Comprion. „Wir sehen, dass es immer wieder zu Problemen im Feld kommt.“

Dafür gibt es vier Hauptgründe: Erstens wird der Markt mit neuen NFC-Geräten und Anwendungen überschwemmt. Technologien verschmelzen miteinander. Daher gibt es viele NFC-Devices, die nicht nach einheitlichen Standards getestet worden sind. Zweitens decken die Standards manchmal nicht alles ab, sondern die NFC-Anwendung verlangt Konformität nach eigenen Vorgaben.

Drittens werden in sich geschlossene und für sich funktionierende NFC-Systeme wie z. B. Zugangskontrollen oder kontaktloses Bezahlen durch die Nutzung eines Smartphones erweitert. Dabei kann es zu Interoperabilitätsproblemen kommen. Viertens können beim Einbau von an sich getesteten NFC-Modulen beispielsweise in Autotürgriffe, Terminals oder Automaten verwendete Materialien zu einer Störung des sensiblen NFC-Magnetfelds führen.

Früh getestet ist halb gewonnen

„Viele dieser Probleme, die zum echten K.-O.-Kriterium werden und damit zu teuren Rückrufaktionen führen könnten, ließen sich vermeiden, wenn man frühzeitig in der Entwicklung getestet hätte“, so Jahnich.

Die CL Development Line wurde speziell für das entwicklungsbegleitende NFC-Testen konzipiert und kann in folgenden Bereichen eingesetzt werden:

  • Pre-Conformance-Testen – Reduzieren von teuren Testlaborzeiten
    Durch EMVCo- und NFC Forum-konforme Testpakete kann im Vorfeld sichergestellt werden, dass das NFC-Gerät den technischen Vorgaben entspricht und somit optimal für die Zertifizierung vorbereitet ist. Dies reduziert teure Testzeiten im Testlabor.
  • Funktionales Testen – NFC-Geräte nach eigenen Vorgaben testen
    Mit Hilfe von Programmierschnittstellen lassen sich Tests nach eigenen Vorgaben – über die Standards hinaus – schreiben und ausführen. So können Netzbetreiber oder Anwendungsentwickler sicherstellen, dass NFC-Devices ihren individuellen Anforderungen entsprechen.
  • Interoperabilitätstesten – Ursachen für Fehler finden
    Wenn Probleme auftreten, können Fehler auf der kontaktlosen Schnittstelle angezeigt und visualisiert werden. Eine leistungsstarke Analysesoftware erlaubt es, bereits im Labor mögliche Fehlerquellen genau einzugrenzen und die Ursachen zu beheben.
  • Designvalidierung – Optimierung des Designs
    Die Lösung ermöglicht es, das magnetische Feld in Form und Stärke zu bestimmen und daraus Maßnahmen für die Optimierung der Schnittstelle, beispielsweise bei der Integration von Antennen abzuleiten. Somit können Störfaktoren durch umgebende Materialien identifiziert und beseitigt werden.

Wie sieht die Lösung aus?

Die CL Development Line ist ein modulares System aus verschiedenen Hardware- und Softwarekomponenten sowie einzigarten Antennen und Zubehör, das je nach dem speziellen Testfall konfiguriert werden kann. „Man zahlt also nicht für Software und Features, die man gar nicht nutzen möchte, sondern nur für das, was man tatsächlich gerade benötigt. Auf der anderen Seite kann man das System aber auch durch weitere Komponenten erweitern und somit auch für andere Anwendungsfälle nutzen“, freut sich Jahnich.

Letzte Änderung am Donnerstag, 08 März 2018 08:36
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